| 主要技术指标 |
仪器采用铜靶作为光源，经过三狭缝准直系统采用点探测器对入射光进行校准。以一维万特探测器采集数据，极大地提高了样品的衍射强度和测试精度。适用于高强度或快速数据采集、过程控制、变温和化学反应测量、微观结构的动态变化、微量相分析等。水平样品台适用于液体、大样品、松散粉末、微量样品、熔融样品的测试。仪器配备真空水平样品热台，适用于变温实验中熔融流动样品的测试，可在线进行动态变温实验。（变温系统: 室温≥1400℃）
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| 功能/应用范围 |
（XRD）研究微观结构和形态特征的一种技术和手段。适用小于1nm范围内结构定量信息的测定。可应用于物质的物相鉴定、结晶结构分析、定量分析、线型分析、以及科研和生产所需要的其它特殊研究。已广泛地应用于化学、化工、药物、环保、材料（高分子材料、纤维材料、合金材料、液晶、薄膜）结构定性定量信息的测定 |
| 服务领域 |
,化工/化纤,橡胶/塑料（材料）,环保/水利/气象/天文,生物/医药 |
| 技术特色 |
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